Produse Microscopie FT-IR

Sistemul de microscopie FT-IR Spotlight 200i este proiectat cu tehnologie de ultimă oră pentru a permite automatizarea inteligentă și capabilități sofisticate de analiză. Sistemul utilizează un detector cu un singur punct de înaltă performanță pentru a oferi cea mai bună sensibilitate, în timp ce iluminarea cu LED-uri cu lumină albă oferă imagini vizibile superioare. În plus, Spotlight 200i are și capacitatea de a fi actualizat complet la sistemul de imagistică Spotlight 400. Caracteristicile unice ale sistemului Spotlight 200i includ: Producție spectrală de înaltă calitate din zone de probă cu limite de difracție de până la 10 microni Descoperirea regiunii de interes (ROI) pentru a permite analiza ușoară a mai multor particule și straturi simultan Capacitate de funcționare în modurile de transmisie, reflectanță și micro-ATR automate pentru flexibilitate maximă în ceea ce privește probele Configurabilitate pentru a fi utilizat cu FT-IR mid-IR, near-IR sau cu rază duală pentru a oferi informații maxime din probe în cel mai scurt timp posibil.

Sistemele de microscopie IR Spotlight™ sunt proiectate pentru a face față provocărilor unui laborator în expansiune prin generarea de date de înaltă calitate, reproductibile dintr-o varietate de tipuri de probe. Sistemul de imagistică Spotlight 400 FT-IR combină sensibilitatea ridicată și imaginea rapidă cu ușurința în utilizare. Capacitatea de scana zone mari de probă rapid la rezoluție spațială mare extinde microscopia FT-IR în aplicații noi.