Sistemul de microscopie FT-IR Spotlight 200i este proiectat cu tehnologie de ultimă oră pentru a permite automatizarea inteligentă și capabilități sofisticate de analiză. Sistemul utilizează un detector cu un singur punct de înaltă performanță pentru a oferi cea mai bună sensibilitate, în timp ce iluminarea cu LED-uri cu lumină albă oferă imagini vizibile superioare. În plus, Spotlight 200i are și capacitatea de a fi actualizat complet la sistemul de imagistică Spotlight 400.
Caracteristicile unice ale sistemului Spotlight 200i includ:
Producție spectrală de înaltă calitate din zone de probă cu limite de difracție de până la 10 microni
Descoperirea regiunii de interes (ROI) pentru a permite analiza ușoară a mai multor particule și straturi simultan
Capacitate de funcționare în modurile de transmisie, reflectanță și micro-ATR automate pentru flexibilitate maximă în ceea ce privește probele
Configurabilitate pentru a fi utilizat cu FT-IR mid-IR, near-IR sau cu rază duală pentru a oferi informații maxime din probe în cel mai scurt timp posibil.
Detalii
Brosura